Универсальный низкочастотный (от 20кГц до 2,5МГц) ультразвуковой дефектоскоп, предназначен для обнаружения дефектов (нарушение сплошности и однородности материалов) в полуфабрикатах и готовых изделиях, для измерения глубины и координат их залегания, измерения толщины, измерения скорости распространения и затухания ультразвуковых колебаний (УЗК) в композитных материалах, пластмассе, бетоне и в материалах с большим затуханием.
|
|